交/直流兩用電源供應器應用白皮書
前言
過去使用交流電源供應器的目的是提供各國市電的電壓與頻率及模擬各種電力品質異常的現象。隨著新能源的發展,通訊與伺服器電源除了使用交流電源作為輸入 外亦可直接輸入來自 UPS 或儲能設備的直流電源(HVDC 或 LVDC)以節省因交流轉換為直流所產生的功耗,再加上交流電源的直流模式具備較快速的電壓變化響應時間 (相較於直流電源供應器),這個特性可對應車載電裝品的測試需要,本文將完整說明這些應用。
測試儀器的天職:以已知探索未知
測試儀器(Test instruments)為輸出型儀器,提供的輸出有兩個用途,第一個用途是提供已知誤差的輸出來激勵(Stimulate)待測物(DUT)的輸入讓待測物得以運作; 第二個用途是模擬(Simulation)可能的故障現象,輸入到待測物以便觀察待測物的容錯能力或重現故障以利電路除錯。
為什麼不能直接用市電做功能性測試?
以一台筆記型電腦的充電器規格為例,輸入端的規格為:
市電無法提供全球泛用型充電器的額定輸入電壓範圍 100~240V,還必須提供± 10%的穩態電壓容許區,所以必須能夠提供 90~264V 的操作電壓做為輸入的激勵源。
自耦變壓器比交流電源便宜也能提供 90~264V 的電壓,為什麼不能取代交流電源?
自耦變壓器無法取代交流電源的原因有五點:
電力品質相關標準
ITI1 (CBEMA2 )資訊科技產業委員會(電腦與商業設備製造商協會):成立於 1916 年,1973 年委員會舊稱縮寫為 CBEMA2,1994 年改為現在的名稱 ITI1,委員會的成立宗旨是鼓勵創新,資訊科技業界的巨頭幾乎都是會員,本文將以 ITI 委員會 2000 年更新的電力品質曲線作為解說案例。
除了 ITI 外,電力品質的相關標準還有 IEEE 1159 Recommended Practice for Monitoring Electric Power Quality ; IEC 61000-4-11 ; IEC 61000-4-34 ; Semi47 :半導體製程電壓驟降抗擾力規格(Specification for semiconductor processing voltage sag immunity)。
圖(1)是 ITI Curve,此圖的電壓裕度 (Voltage Tolerances)包絡線適用於單相 120V 設備,圖中有三個區域,第一區為功能無中斷區(No interruption in function region);第二區為禁制區 (Prohibited region);第三區為不可造成損壞區(No damage region)。
圖 1: ITI Curve (本圖參考自 ITI 應用文章並加註中文及 SEMI47規格)
電源電路的設計對策:
電能轉換器控制機制包含:電壓回授;電流回授;輸入電壓前饋;輸入電流前饋;溫度前饋;負載變動前饋等。
功能無中斷區的電力品質議題
從 ITI curve 功能無中斷區的電壓裕度包絡線又可以細分為幾個區域,這些區域又 有各自的電力品質議題與因應對策,這些細分區域包含:
圖 2:左圖為 ASR-3400 ;右圖為低頻衰減振鈴示意波形
圖 3:功能無中斷區電力品質議題示意圖
Note 1: ITI 為 Information Technology Industry Council 的縮寫簡稱
Note 2: CBEMA為 Computer and Business Equipment Manufacturers Association 的縮寫簡稱
Note 3 : OVP Over Voltage Protection
Note 4 : UVLO Under Voltage Lockout
Note 5 : TVSS Transient Voltage Surge Suppressor