本網站使用cookie以提供您最佳用戶體驗。繼續瀏覽網站而不更改您的cookie設置請點擊OK按鈕,即表示您確認並同意我們的隱私政策和cookie的使用。 了解更多cookie訊息及隱私權政策。
2017-09-15
EMI/EMC問題防制與對策研討會
日期:2017年10月12日
時間:09:30AM - 12:00PM
地點:南港展覽館4F / 403室
(於2017年台北國際電子產業科技展期間)
您想了解電磁兼容要如何測試嗎?
您想了解Peak, QP, Avg Detectors的工作原理差異嗎?
您想了解要如何加快EMI測試,減少時間與金錢的花費嗎?
您想了解全新設計的EMI Debug Tool能夠帶給你多大的好處嗎?
固緯電子顛覆您對EMI Pretest測試的印象!
消費性電子產品的變化越來越快,電路的設計日趨複雜,在內部元件不斷整合下,元件密度越來越高,在EMI的防制上更是一大考驗。現在的產品生命週期越來越短,要如何在開發階段能有效快速地解決EMI的問題,減少產品在往返認證實驗室的測試時間與成本,成為工程師在進行電路設計時必須提前去思考的議題。
講師介紹
廖嶽儒 協理
固緯電子無線通訊事業部
研討會議程
09:30 - 10:00 報到
10:00 - 11:50 EMI/EMC問題防制與對策
- 電磁兼容的基本概念
- EMI檢測器(QP, Avg)的工作原理與判定
- 電磁信號抑制的基本觀念與做法
- EMI干擾源的辨識與挑戰
- EMI 高效率除錯工具與實測
11:50 - 12:00 抽獎