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測試頻率10 μHz ∼ 15 MHz |
從10 μHz 的低頻到15 MHz 實現全覆蓋。分辨率也提高到10 μHz 。支持電化學阻抗測試所需的超低頻。 |
測試速度0.5 ms/point |
掃描速度最快0.5 ms/point。可幫助縮短生產線上的節拍時間。 |
基本準確度增益±0.01 dB, 相位±0.06° |
通過數字傅立葉計算方法與自校準功能,隨時進行高精度測試。與原來型號相比,增益/ 相位的準確度均有所提升。 |
* 準確度根據測試條件而不同。
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動態量程140 dB |
通過高分辨率A/D 轉換器和對每個測試頻率點分別進行量程優化的自動切換量程功能,確保較大的動態量程。對於測試過程中發生的變化,也能準確地測試出來。 |
隔離電壓600 V CAT Ⅱ / 300 V CAT Ⅲ |
振盪器輸出(OSC)與2個分析輸入(CH1/ CH2)在機殼與端子間相互被隔離,額定絕緣為600V CATⅡ或300V CATⅢ。 高壓電需求增大的逆變器和PFC迴路等以電源迴路的環路/增益測試為首,其應用範圍越來越大。 |
自動切換量程 |
追隨輸入信號的電平,設定最佳量程後再進行測試。如檢測到超出量程的噪聲,則自動設定大的量程進行重新測試。測試數據成為未出現量程飽和的數據。為消除隨著量程變化而出現的測試值不連續,也可選擇固定量程。 |
自動高密度掃描 |
支持最高20,000 點的高密度測試,僅針對測試數據急劇變化的區間,自動提高頻率密度進行測試。 |
振幅壓縮功能 |
為防止被測試系統的飽和或破損,對振盪器的電平進行控制,以使被測試系統的振幅水平保持穩定。 |
積分功能 |
消除噪聲影響進行測試的數據積分功能。重複測試期間按循環數或時間進行設定。 |
自動積分功能 |
進行反复積分、直至噪聲引起的測試波動成分達到設定值以下的功能。 |
延時功能 |
為減輕由於頻率改變時的瞬態響應而引起的誤差,將時間延時至測試開始的功能。還追加了僅在掃描或開始當場測試時,將時間延時至測試開始的功能。 |
微分/ 積分運算功能 |
在測試數據的時間區域裡進行微分/二次微分/積分/二次積分的功能。對於來自加速度傳感器和激光多普勒振動計的信號,在掃描的同時進行運算,變換成位移/速度/加速度並顯示。 |
接口GPIB,USB,LAN,RS-232,VGA |
標準配備GPIB, USB, LAN, RS-232接口。可構建自動測試系統。 另外,在背面配備了VGA連接器作為外部顯示器。關於其他輸出連接器等,請參閱右側的背面照片。 |
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順序測試 |
對於設定存儲的內容,按照編號順序讀出並掃描測試的功能。對於一個掃描,可將頻率範圍最多分割成20 個部分,在各自的頻率範圍內分別按不同的振幅、積分設定等進行測試。濾波器和壓電元件等想要高密度地測試特定的頻率範圍時,多層陶瓷電容器(MLCC)、電感器和變壓器等具有偏壓依存性的零部件的測試等較為方便。 |
濾波器的通帶測試 僅必要頻率範圍的測試 |
MLCC的電容測試 在相同頻率範圍內,改變測試條件進行測試 |
標記搜索功能 |
除讓標記移動並讀取數值外,還可自動搜索符合設定條件的點。 |
群延時測試 |
可顯示用於濾波器等電子電路波形再現性評價的群延時(GD: Group Delay,用角頻率對輸入輸出間的相位進行微分)。 |
頻率變化時相位控制 |
在振盪器輸出信號的相位為0°時改變頻率。由此,從頻率掃描開始到結束期間的直流成分變為零,在電池的阻抗測試中,充放電狀態不發生變化。另外,在高通濾波器(HPF)的頻率特性測試中,不會由於直流而產生瞬態響應。 |
誤差校正 |
開路校正/短路校正/負載校正,端口延長功能,電位梯度消除功能,補償 | ||||||||||||||||||||||||||
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圖表顯示 |
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